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此芯片集信号放大，A/D转换于一身。由于本套变形单元具有“以单芯片为核心，外围电路少”的特点，因此本系统具有精度高，稳定性能好，线性误差小，抗干扰能力强等特点。合理的设计，良好的工艺布局使放大器稳定性极好。它与放大器相联的单片计算机单元，作为主机的，负责整机的放大器量程变换、数据采集、数据传输、试验方式选择及液晶显示，直读的数字量化，同时可以把这些数据通过RS232口输出，通过RS232口也可以接受其它设备的指令。由于采用单片计算机控制，本单元具有自动调零的功能，调零时，只需在主界面按清零键即可全程自动清零，清零时间极短。变形测量技术参数：变形测量指标参数有测量范围，示值误差，灵敏度，分辨率。测量范围——试验机通过测量系统所能够测量到的材料或构件的小尺寸与大尺寸之间的范围。
示值误差——试样变形值的记录或显示的测量值与被测量值的实际数值之差，称为试验机测量系统的示值误差。示值误差是不可避免的，其大小在特定的范围内或者标准规定范围。试验机变形测量灵敏度——灵敏度指示器的相对于被测量变化的位移率，灵敏度是衡量物理仪器的一个标志，试验机测量系统灵敏度越精细，则测量结果精度越高。试验机变形测量的分辨率是指试验机光电编码器测量数据的可测量的小精度。分辨率越大，测量结果越。变形测量工作原理：应变式引伸计是由弹性元件和粘贴在它上的应变片组成的，当引伸计移动臂受力时，引起弹性体变形并使粘贴在它上面的应变片电阻值发生变化，原来平衡的电桥失去平衡输出一个正比于变形的电压信号输出。
由于引伸计输出的电信号极其微弱。必须经放大后才能达到要求的值，这个工作由完全由A/D转换器放大和转换，然后送到单片计算机进行处理，以直读的方式进行显示，同时通过RS232传输到计算机，进行数据处理。试验机的变形测量是试验机测控系统比较重要的组成部分，是试验键技术环节。选用可靠性高，稳定性强的变形测量仪器是值得用户考虑的因素之一。便携式里氏硬度计的使用原理：对被测试件的一般要求：试件表面应洁净，无灰尘，无油污和无氧化皮。对试件表面温度的要求：试件表面的温度不能过热，要求温度小于120℃。测试佳温度为4℃-38℃。对试件表面粗糙度的要求：试件表面粗糙度应满足下表的要求，试件表面的粗糙度不但影响测试精度。
而且影响冲击球头的使用寿命。对试件重量的要求：对足够重的试件不需要支撑，直接进行测试。对重量不太重的试件，有悬伸部分的试件以及薄壁试件，在测试时应使用物体支撑，以避免冲击力引起试件的扭曲、变形和移动。对重量较小的试件，应使其与重量大与5kg的支撑体紧紧耦合，要求试件与支撑体表面必须平整、光滑，耦合剂（凡士林，机油等）用量不宜过多，测试方向必须垂直于耦合平面。对试件表面硬化层厚度的要求：对于表面覆有硬化层的试件，为保证测试精度，要求对应于不同的冲击装置试件表面硬化层厚度。对板材、管壁型试件厚度的要求：对于板材、管材和其它薄片型试件的测试，为保证测试精度，要求对应于不同的冲击装置试件厚度。对曲面试件保证测试精度的要求：使用D型冲击装置。
要求试件曲面半径大于30mm；使用G型冲击装置，要求试件曲面半径大于50mm。对不满足上述要求的球面、柱面和凹面等曲面试件，为保证测试精度，应采用异型支撑环（选购件）。异型支撑环有如下规格：外圆球面：K10-15mm，K14.5-30mm。内圆球面：HK11-13mm，HK12.5-17mm，HK16.5-30mm。外圆柱面：Z10-15mm，Z14.5-30mm，Z25-50mm。内圆柱面：HZ11-13mm，HZ12.5-17mm，HZ16.5-30mm。对试件表面无磁性的要求：试件表面不能带有磁性，带有磁性的试件将影响测试精度。要求试件剩磁应小于4G。九对试件无振动的要求测试时，试件所处的周围环境不应有振动。
否则会影响测试结果。智能式变送器：是由传感器和微处理器（微机）相结构而成的。它充分利用了微处理器的运算和存储能力，可对传感器的数据进行处理，包括对测量信号的调理（如滤波、放大、A/D转换等）、数据显示、自动校正和自动补偿等。微处理器是智能式变送器的核心。它不但可以对测量数据进行计算、存储和数据处理，还可以通过反馈回路对传感器进行调节，以使采集数据达到佳。由于微处理器具有各种软件和硬件功能，因而它可以完成传统变送器难以完成的任务。所以智能式变送器降低了传感器的制造难度，并在很大程主上提高了传感器的性能。另外，智能式变送器还具有以下特点：具有自动补偿能力，可通过软件对传感器的非线性、温漂、时漂等进行自动补偿。
